显微荧光寿命测试系统 (适配超高压)WQ-τ1
功能:共焦微区光谱;荧光寿命衰减曲线测量;共焦微区光致发光光谱;(采用冷冻CCD检测器)主要技术指标:空间分辨率:<2 um;光学相机视场:< 0.5 mm荧光寿命范围达:15ps--10s(400-1050nm)光谱测试范围:350-1...
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