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微区荧光光谱及寿命测试系统
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显微荧光寿命测试系统 （适配超高压）WQ-τ1
HS-1000SCU2
功能：共焦微区光谱；荧光寿命衰减曲线测量；共焦微区光致发光光谱；（采用冷冻CCD检测器）主要技术指标：空间分辨率：＜2 um；光学相机视场：＜ 0.5 mm荧光寿命范围达：15ps--10s（400-1050nm）光谱测试范围：350-1...
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邮箱：gaopei@okinst.com

功能：

  1. 共焦微区光谱；

  2. 荧光寿命衰减曲线测量；

  3. 共焦微区光致发光光谱；（采用冷冻CCD检测器）

主要技术指标：

  1. 空间分辨率：＜2 um；

  2. 光学相机视场：＜ 0.5 mm

  3. 荧光寿命范围达：15ps--10s （400-1050nm）

  4. 光谱测试范围：350-1100nm；

  5. 荧光寿命采集时间通道数：64,000 通道；

配置：

  1.  355nm+532nm 双皮秒光源；（满足全部时间域测试）

  2.  正置奥林巴斯显微镜；

  3.  SPAD光子计数检测器；

  4.  电子冷冻CCD检测器（-85℃）

选配升级： 

  1.  可选配：液氮变温控制工作台；

  2.  可选配：自动载物台或振镜扫描系统；

  3.  其它光源（波长可选）；

  4. 金刚石对顶砧超高压系统模块；WQ-τ1

推荐理由：

  1.  共焦测量，空间分辨率高；

  2.  一个激光器两个波长实现100ps-1s寿命（同时采集全时域）

  3.  不同时间分辨率曲线一次采集，满足高分辨和长寿命对比定量需求；

  4.  新一代TCSPC技术；基于FPAG的多通道TDC集成数据采集系统。


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