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HORIBA 椭偏光谱仪
HORIBA 椭偏光谱仪
简要描述:
薄膜光学常数与厚度测量,适用于半导体、光学镀膜及材料表征。 薄膜测量 光学常数分析 非破坏检测
  • 产品型号:HORIBA Scientific
  • 更新时间:2026-08-18
  • 访  问  量:15

详细介绍

薄膜光学常数与厚度测量,适用于半导体、光学镀膜及材料表征。

  • 薄膜测量
  • 光学常数分析
  • 非破坏检测

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