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HORIBA 椭偏光谱仪
简要描述:
薄膜光学常数与厚度测量,适用于半导体、光学镀膜及材料表征。 薄膜测量 光学常数分析 非破坏检测
产品型号:
HORIBA Scientific
更新时间:
2026-08-18
访 问 量:
15
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