显微荧光寿命测试系统 (适配超高压)WQ-τ1
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产品描述
功能:
- 共焦微区光谱;
- 荧光寿命衰减曲线测量;
- 共焦微区光致发光光谱;(采用冷冻CCD检测器)
主要技术指标:
- 空间分辨率:<2 um;
- 光学相机视场:< 0.5 mm
- 荧光寿命范围达:15ps--10s (400-1050nm)
- 光谱测试范围:350-1100nm;
- 荧光寿命采集时间通道数:64,000 通道;
配置:
- 355nm+532nm 双皮秒光源;(满足全部时间域测试)
- 正置奥林巴斯显微镜;
- SPAD光子计数检测器;
- 电子冷冻CCD检测器(-85℃)
选配升级:
- 可选配:液氮变温控制工作台;
- 可选配:自动载物台或振镜扫描系统;
- 其它光源(波长可选);
- 金刚石对顶砧超高压系统模块;WQ-τ1
推荐理由:
- 共焦测量,空间分辨率高;
- 一个激光器两个波长实现100ps-1s寿命(同时采集全时域)
- 不同时间分辨率曲线一次采集,满足高分辨和长寿命对比定量需求;
- 新一代TCSPC技术;基于FPAG的多通道TDC集成数据采集系统。
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