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显微荧光寿命测试系统 (适配超高压)WQ-τ1

显微荧光寿命测试系统 (适配超高压)WQ-τ1

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产品名称

显微荧光寿命测试系统 (适配超高压)WQ-τ1

所属分类
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产品描述

功能:

  1. 共焦微区光谱;
  2. 荧光寿命衰减曲线测量;
  3. 共焦微区光致发光光谱;(采用冷冻CCD检测器)

主要技术指标:

  1. 空间分辨率:<2 um;
  2. 光学相机视场:< 0.5 mm
  3. 荧光寿命范围达:15ps--10s (400-1050nm)
  4. 光谱测试范围:350-1100nm;
  5. 荧光寿命采集时间通道数:64,000 通道;

配置:

  1.  355nm+532nm 双皮秒光源;(满足全部时间域测试)
  2.  正置奥林巴斯显微镜;
  3.  SPAD光子计数检测器;
  4.  电子冷冻CCD检测器(-85℃)

选配升级: 

  1.  可选配:液氮变温控制工作台;
  2.  可选配:自动载物台或振镜扫描系统;
  3.  其它光源(波长可选);
  4. 金刚石对顶砧超高压系统模块;WQ-τ1

推荐理由:

  1.  共焦测量,空间分辨率高;
  2.  一个激光器两个波长实现100ps-1s寿命(同时采集全时域)
  3.  不同时间分辨率曲线一次采集,满足高分辨和长寿命对比定量需求;
  4.  新一代TCSPC技术;基于FPAG的多通道TDC集成数据采集系统。

 

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暂未实现,敬请期待
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