显微荧光寿命测试系统 （适配超高压）WQ-τ1

功能：

1. 共焦微区光谱；
2. 荧光寿命衰减曲线测量；
3. 共焦微区光致发光光谱；（采用冷冻CCD检测器）

主要技术指标：

1. 空间分辨率：＜2 um；
2. 光学相机视场：＜ 0.5 mm
3. 荧光寿命范围达：15ps--10s （400-1050nm）
4. 光谱测试范围：350-1100nm；
5. 荧光寿命采集时间通道数：64,000 通道；

配置：

1.  355nm+532nm 双皮秒光源；（满足全部时间域测试）
2.  正置奥林巴斯显微镜；
3.  SPAD光子计数检测器；
4.  电子冷冻CCD检测器（-85℃）

选配升级： 

1.  可选配：液氮变温控制工作台；
2.  可选配：自动载物台或振镜扫描系统；
3.  其它光源（波长可选）；
4. 金刚石对顶砧超高压系统模块；WQ-τ1

推荐理由：

1.  共焦测量，空间分辨率高；
2.  一个激光器两个波长实现100ps-1s寿命（同时采集全时域）
3.  不同时间分辨率曲线一次采集，满足高分辨和长寿命对比定量需求；
4.  新一代TCSPC技术；基于FPAG的多通道TDC集成数据采集系统。